首页 > 放射照像检测 > 屏片系统专用要求
用于点测量的可校准密度计
综合感光仪和光密度计的胶片评价工具
适用于X射线屏片摄影成像系统, 用于检测X线放射摄影系统的会聚滤线栅与胶片盒中心及及有效射线束中心线的对准情况
